用于大型样品的正置显微镜
使用蔡司Axio Imager Vario分析极小的MEMS传感器或整块平板。其支柱设计让您可以检测超大样品,同时保持高度稳定性。此外,Axio Imager Vario已获得洁净室使用认证。检查大型样品 选择手动或电动支柱,尽享可检测最大尺寸为300 mm × 300 mm、最大高度为254 mm样品的优势。无论是处理重型样品还是与蔡司LSM材料共聚焦激光扫描显微镜结合使用,坚固的支柱设计均可防振动,提供可靠的稳定性。 获得洁净室工作认证 始终保持对焦 当检测低衬度反光表面时,只需为您的Axio Imager Vario配备高效的硬件自动对焦。无论是对于反射光还是透射光,均可保证高精度。传感器能够探测到焦点位置变化,并自动补偿任何偏差。即使是大型样品,在移动时也能保持出色对焦。
硬件自动对焦
材料研究和工业生产需要对焦精度可达物镜景深0.3倍的高精度对焦系统。锁定范围高达12000 µm的对焦系统可满足该要求。该自动对焦适合使用反射光、透射光、明场、暗场、偏光、微分干涉相差及斜照明的应用。
TFT显示屏,明场,透射光,红色、绿色和蓝色子像素
应用
探索Axio Imager Vario在材料领域的金相应用
反射光暗场,EC Epiplan-APOCHROMAT 10x/0.30
反射光明场,EC Epiplan-NEOFLUAR 5x/0.13
反射光暗场,EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0.95
反射光,C-DIC,EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0.95