BX53-P型偏光显微镜

BX53-P型偏光显微镜

概述

偏振光观测的新标准

UIS2 光学器件提供出色的可扩展性

UIS2光学系统最大限度地发挥了无限远校正的优势，有助于防止光学显微镜性能的下降，并消除放大因子，即使在光路中引入偏振元件（如分析仪、色板或补偿器）也是如此。BX53-P显微镜还接受可用于BX3系列显微镜以及相机和成像系统的中间附件。

石英闪长石中斜长石的带状结构。*刻度表示样品的实际大小

MBBA的光学纹理 *刻度表示样品的实际尺寸

 Bertrand 透镜用于锥镜和正射镜观察

使用锥光观察附件，可以在正射观察和锥光观察之间切换非常简单。它是可聚焦的，用于观察清晰的后焦平面干涉图案。Bertrand 镜头可对焦，可清晰地观看后焦平面干涉图案。视场光阑可以始终如一地获得清晰的锥光图像。

种类繁多的补偿器和波片

有六种不同的补偿器可用于测量岩石和矿物薄片中的双折射。测量延迟水平范围为 0 至 20λ。为了便于测量和高图像对比度，可以使用 Berek 和 Senarmont

补偿器，这改变了整个视场的延迟水平。

补偿器的测量范围

*R = 延迟水平

为了更准确地测量，我们建议将补偿器（U-CWE2 除外）与干扰过滤器 45-IF546 一起使用

最小应变光学元件

我们的偏振光物镜将内部应变降至最低。这意味着更高的EF值，从而产生出色的图像对比度。

坚固而精确的旋转平台

安装在旋转台上的旋转对中机构使试样能够平稳旋转。此外，每 45 度都有一个咔嗒停止机构，用于精确测量。通过可选的双机械载物台，可以进行隐蔽的 X-Y 运动。

技术规格