CIX100检测系统：简化技术清洁度的检测
CIX100检测系统：简化技术清洁度的检测
保证部件、工件和流体具有合格的清洁度是制造过程的核心所在。满足微米级污染物和异物颗粒的计数、分析和分类的高标准对于以下方面非常重要：
标准的清洁度检测流程：准备（第1-3步）和检测（第4-6步）。第1步：提取，第2步：过滤，第3步：称重，第4步：检测，第5步：复核，第6步：结果。
各种国际和国家指令对于如何确定基本加工零件上颗粒污染的方法和记录要求都有描述，因为颗粒污染会直接影响工件和部件的使用寿命。目前的标准要求提供有关污染性质的详细信息，如颗粒的数量、粒度分布和颗粒特性。
CIX100清洁度检测系统旨在满足现代工业以及国家和国际指令对清洁度的要求，并通过深度学习AI（人工智能）技术扩展了颗粒分型的可能性。
简单可靠
硬件和软件无缝集成，打造出一款可以提供可靠、准确数据的耐用型高效率系统。
- 易于设置的自动化交钥匙解决方案
- 稳定的测量系统设置有利于提供可重复的结果
- 先进的光学性能和可再现的成像条件
- 自动化系统通过集成的校准装置进行自检
- 全系统集成，实现所有硬件部件的自动化控制
- 支持各种圆形和矩形样品托架
通过直观的指导大幅提高生产效率
- 专用、简单的工作流程可大幅减少用户操作，并提供可靠的数据 - 与操作人员和经验水平无关
- 借助用户友好型工具轻松修改检测数据
- 分步指导可提高生产率，缩短检测时间
- 用户权限管理可限制不同用户对功能的使用，以尽量减少人为错误
- 触摸屏支持容易点击的大按钮
- 符合要求的一键式报告，实现高效的文件记录
- 所有数据均自动保存，并可轻松导出和共享
- 可选配的材料分析解决方案提供独立的显微镜模式
- CIX100的TruAI解决方案支持基于深度学习技术的图像分析
快速实时分析
创新型一体化扫描解决方案检测反光（金属）和非反光颗粒的速度是需要两幅独立图像的传统方法的两倍。即时反馈颗粒计数和颗粒分类的信息可帮助您快速做出决策。
- 用于快速识别滤膜覆盖范围、颗粒聚集或危害性最大颗粒的概览图像
- 对2.5微米至42毫米范围内的污染物颗粒进行自动实时处理和分类
- 高检测量：系统在一次扫描中可同时探测到反光和非反光颗粒
- 实时分析可使您对结果做出实时反应
- 可根据选定的行业标准定制符合要求的结果
有效的数据评估
借助支持公司和国际清洁度检测标准的强大的、易于使用的工具修改检测数据。清晰呈现所有相关的检测结果，节省了时间。
- 图像和数据的有序排列，使数据复核效率更高
- 可选择各种视图，立即识别颗粒
- 颗粒位置和缩略图链接到实时图像
- 轻松地对检测数据进行重新分类、复核、修改和重新计算
- 实时显示整体清洁度代码、颗粒和分类表
- 趋势分析，以确定随时间推移而出现的潜在的测量偏差
- 在一个视图中显示完整的检测数据
创建合规报告
一键式报告制作方式符合国际标准中阐述的要求和方法。报告可以定制（例如，包括颗粒形态），从而可轻松满足不同公司的特定标准。
- 使用预定义的合规模板生成专业报告
- 可轻松调整模板和报告，以满足行业和公司的规定
- 支持各种输出格式，包括MS Word和PDF
- 报告文件大小经过优化，可轻松进行结果共享
- 长期数据存储，使您可以在多年后证明决策的合理性
